特徴
微分干渉顕微鏡によるサブミクロン画像処理で、実装位置ズレを高精度に検出
用途
異方導電フィルム(ACF)内の導電粒子の圧痕確認により液晶COG (Chip on Glass)実装における、IC圧着状態を検査
主要スペック
項目 |
スペック |
---|---|
検査分解能 |
1µm/pix(視野幅2mm) |
パネルサイズ |
1~17インチ |
検査項目 |
・ 実装位置ズレ |
最小検出 |
撮像時3画素以上 |
最小検出 |
コントラスト30以上 |
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